Archivierte Termine des aktuellen Jahres |
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16.06.2010
bis 17.06.2010
- User Meeting 2010 Digitaltest
[Stutensee (D)]
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Ort
Digitaltest GmbH
Lorzenstr. 3
D-76297 Stutensee |
Beschreibung
Zweitägiges Seminar mit Vorträgen und Workshops zum Thema In-Circuit Tester, Kombi-Tester und Flying-Probe Tester
Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Thomas Diethelm
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Organisator
Digitaltest GmbH
Anmeldung |
Betreuung
Die Teilnehmer aus der Schweiz und Österreich werden betreut durch:
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08.06.2010
bis 10.06.2010
- SMT/Hybrid/Packaging
[Nürnberg (D)]
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Ort
Messezentrum Nürnberg
Halle 7, Stand 318
Info zur Electronica |
Beschreibung
Die SMT/HYBRID/PACKAGING ist seit Jahren das ideale Forum für Anbieter der Branche. Von Design und Entwicklung über Leiterplattenfertigung, Bauelemente, Aufbau- und Bestückungstechnologien bis hin zum Test-Equipment - hier finden Sie alles kompakt und übersichtlich unter einem Dach!
Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an: Marco Weidmann
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Organisation
GÖPEL electronic GmbH
Anmeldung |
GÖPEL electronic GmbH präsentiert
- AOI Systeme
- AXI Systeme
- JTAG Boundary scan
- Automotiv Test Solution
- Digitale Bildverarbeitung
Die Besucher aus (CH) + (A) werden betreut durch:
- Marco Weidmann
- Georg Kohler
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04.05.2010
bis 05.05.2010
- Boundary Scan Days
[Jena (D)]
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Ort
GÖPEL electronic GmbH
Göschwitzerstr. 58/60
D-07745 Jena |
Beschreibung
Zweitägiges Seminar mit Vorträgen und Workshops zum Thema Boundary Scan.
Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an: Georg Kohler
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Organisator
GÖPEL electronic GmbH
Anmeldung |
Betreuung
Die Teilnehmer aus der Schweiz und Österreich werden betreut durch:
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24.03.2010
- NIDays 2010
[Wien (A)]
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Ort
Studio 44
Rennweg 44
A-1030 Wien |
Beschreibung
Am Technologie und Expertenkongress werden wieder über 350 Fachleute und Anwender aus
verschiedensten Bereiche der Mess-, Prüft und Automatisierungstechnik erwartet.
Nicht nur NI-Experten, sondern vor allem Anwender kommmen hier zu Wort und berichten
über ihre innovation Applikationen und Lösungen.
Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an:
Marco Weidmann
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Themen von ad+t AG
| Get the Total Coverage!
Verschmelzung von mehreren Prüfmethoden in einem Kombitester:
- FKT - Funktionstest
- BST - JTAG/Boundary Scan
- ICT - In-Circut-test (MTS)
- DBV - Digitale Bildverarbeitung
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Organisation
National Instruments
Anmeldung |
ad+t AG präsentiert
- Fachausstellung:
Alphatester "MODULO" die Intergration von
verschiedenen Prüfmethoden
- Fachvortrag:
Vereinigung verschiedener Teststrategien
mit Hilfe von NI TestStand
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02.03.2010
- NIDays 2010
[Zürich (CH)]
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Ort
Swissotel Zürich
CH-8050 Zürich |
Beschreibung
Am Technologie und Expertenkongress werden wieder über 350 Fachleute und Anwender aus
verschiedensten Bereiche der Mess-, Prüft und Automatisierungstechnik erwartet.
Nicht nur NI-Experten, sondern vor allem Anwender kommmen hier zu Wort und berichten
über ihre innovation Applikationen und Lösungen.
Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an:
Marco Weidmann
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Themen von ad+t AG
| Get the Total Coverage!
Verschmelzung von mehreren Prüfmethoden in einem Kombitester:
- FKT - Funktionstest
- BST - JTAG/Boundary Scan
- ICT - In-Circut-test (MTS)
- DBV - Digitale Bildverarbeitung
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Organisation
National Instruments
Anmeldung |
ad+t AG präsentiert
- Fachausstellung:
Alphatester "MODULO" die Intergration von
verschiedenen Prüfmethoden
- Fachvortrag:
Vereinigung verschiedener Teststrategien
mit Hilfe von NI TestStand
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28.01.2010
- Prüftechnologie-Tag 2010
[Linz (A)]
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Ort
TechCenter
Hafenstr. 51
A-4020 Linz |
Beschreibung
Der Prüftechnologie-Tag ist der Treffpunkt für Prüfexperten aus aller Industriebranchen er bietet einen umfassenden Einblick in die neusten Entwicklungen der verschiedenen Prüfmethoden.
Gute Gründe, dabei zu sein
Die Kombination aus Fachvorträgen, Gesprächen mit Spezialisten und der begleitenden Ausstellung mit Exponatenn aus den verschiedenen Prüfmethoden bietet allen Teilnehmern des Prüftechnologie-Tages umfassende Informationen und eine einmalige und günstige Gelegenheit zum Erfahrungsaustausch.
Für weitere Information wenden Sie sich bitte an: Marco Weidmann
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Themen
Beschreibung
Einladung |
Prüfmethoden
- AOI - Automatische Optische Inspektion
- AXI - 3.D In-Line Röntgen System mit AOI
- BST - JTAG/Boundary Scan - ScanFlex
- FPT - Flying Probe Tester
- ICT - In Circuit Test (MTS)
- FKT - Funktionstester, End of Line Tester
- ATS - PXI-Plattform
- DBV - Digitale Bildverarbeitung
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Organisator
ad+t AG
Automated Design +Test
Anmeldung |
Partnerfirmen
- Digitaltest GmbH
- GÖPEL electronic GmbH
- National Instruments Ges.m.b.H
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27.01.2010
- AOI-Advanced-Training
[Linz (A)]
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Ort
TechCenter
Hafenstr. 51
A-4020 Linz |
Beschreibung
Das AOI-Advanced-Training hat das Ziel dem
Anwender und Teilnehmer die Möglichkeiten zu
bieten sich unter Anwneder die eigenen
Erfahrungen auszutauschen
Für weitere Information wenden Sie sich bitte an: Marco Weidmann
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Organisator
ad+t AG
Automated Design +Test
Anmeldung |
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26.01.2010
- Prüftechnologie-Tage 2010
[Wien (A)]
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Ort
Design Hotel ROOMZ
Paragonstr. 1
A-1110 Wien |
Beschreibung
Der Prüftechnologie-Tag ist der Treffpunkt für Prüfexperten aus aller Industriebranchen er bietet einen umfassenden Einblick in die neusten Entwicklungen der verschiedenen Prüfmethoden.
Gute Gründe, dabei zu sein
Die Kombination aus Fachvorträgen, Gesprächen mit Spezialisten und der begleitenden Ausstellung mit Exponatenn aus den verschiedenen Prüfmethoden bietet allen Teilnehmern des Prüftechnologie-Tages umfassende Informationen und eine einmalige und günstige Gelegenheit zum Erfahrungsaustausch.
Für weitere Information wenden Sie sich bitte an: Marco Weidmann
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Themen
Beschreibung
Einladung |
Prüfmethoden
- AOI - Automatische Optische Inspektion
- AXI - 3.D In-Line Röntgen System mit AOI
- BST - JTAG/Boundary Scan - ScanFlex
- FPT - Flying Probe Tester
- ICT - In Circuit Test (MTS)
- FKT - Funktionstester, End of Line Tester
- ATS - PXI-Plattform
- DBV - Digitale Bildverarbeitung
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Organisator
ad+t AG
Automated Design +Test
Anmeldung |
Partnerfirmen
- Digitaltest GmbH
- GÖPEL electronic GmbH
- National Instruments Ges.m.b.H
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