Archivierte Termine des letzten Jahres
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10.11.2009
bis 13.11.2009
- electronica
[München (D)]
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Standort:
Neue Messe München
Halle A1, Booth 365
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Beschreibung:
Die electronica bietet Ihnen nicht nur einen umfassenden und lücken losen
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| Informationen zur productronica |
Überblick über die gesamte Branche, sondern macht die komplexe Welt der Elektronik-fertigung sehr transparent und zeigt den gesamten Markt in seiner kompletten Breite, Tiefe und Vielfalt.
Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an
Marco Weidmann
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| Organisiert von: |
Wir stellen aus: |
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Digitaltest GmbH
Anmeldung
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- In-Circuit Tester
- Flying Probe Tester
- In-Line Testsystem Solution
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Die Besucher aus (CH) + (A) werden betreut durch: |
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- Thomas Deithelm
- Georg Kohler
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10.11.2009
bis 13.11.2009
- productronica
[München (D)]
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Standort:
Neue Messe München
Halle A1, Booth 239
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Beschreibung:
Die productronica bietet Ihnen nicht nur einen umfassenden und lücken losen
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| Informationen zur productronica |
Überblick über die gesamte Branche, sondern macht die komplexe Welt der Elektronik-fertigung sehr transparent und zeigt den gesamten Markt in seiner kompletten Breite, Tiefe und Vielfalt.
Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an
Marco Weidmann
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| Organisiert von: |
Wir stellen aus: |
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Göpel electronic GmbH
Anmeldung
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- AOI Systeme
- JTAG/Boundary Scan
- Automotiv Test Solution
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Die Besucher aus (CH) + (A) werden betreut durch: |
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- Marco Weidmann
- Georg Kohler
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29.09.2009
bis 30.09.2009
- Inspection Days
[Jena (D)]
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Standort:
GÖPEL electronic GmbH
Göschwitzer Strasse 56/60
D-07745 Jena
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Beschreibung:
Zweitägiges Seminar für Anwender und Interessenten zum Thema Automatische Optische Inspektion bestückter Leiterplatten.
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Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an
Agenda
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| Organisiert von: |
Die Teilnehmer aus (CH) + (A) werden betreut durch: |
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Göpel electronic GmbH
Anmeldung
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05.05.2009
bis 07.05.2009
- SMT Hybrid Packaging
[Nürnberg]
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Standort:
Messezentrum Nürnberg
Halle 7, Stand 318
Informationen zur SMT
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Beschreibung:
Die SMT/HYBRID/PACKAGING ist seit Jahren das ideale Forum für Anbieter der Branche.
Von Design und Entwicklung über Leiterplattenfertigung, Bauelemente, Aufbau- und Bestückungstechnologien bis hin zum Test-Equipment - hier finden Sie alles kompakt und übersichtlich unter einem Dach!
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Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an
Marco Weidmann
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| Organisiert von: |
Wir stellen aus: |
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Göpel electronic GmbH
Anmeldung
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- AOI Systeme
- JTAG Boundary scan
- Automotiv Test Solution
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Die Besucher aus (CH) + (A) werden betreut durch: |
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- Marco Weidmann
- Georg Kohler
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26.03.2009
- Prüftechnologie Tage 09
[Linz (A)]
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Standort:
Tech cEnter
A-4020 Linz
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Beschreibung:
Wie jedes Jahr dreht sich beim Prüftechnologie Tag von ad+t alles um Neuigkeiten und Anwendungen der verschiedenen Prüfverfahren. Die Kombination aus Fachvorträgen,
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Gesprächen mit Spezialisten und der begleitenden Ausstellung bietet allen Teilnehmern des Prüftechnologie-Tags umfassende Informationen und eine einmalige und günstige Gelegenheit zum Erfahrungsaustausch.
Alles in allem erhalten Sie entscheidende Anhaltspunkte für die Auswahl
des geeigneten Prüfverfahrens und zur Steigerung Ihrer Wertschöpfung.
Marco Weidmann
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Themen:
Agenda
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- AOI/AXI-Systeme
- JTAG/Boundary Scan - ScanFlex
- ATS- Automotive Test Solutions
- Alphatester - Universelles und modulares Funktionstester
- In Circuit Test (MTS)
- Flying Probe Test
- PXI-Plattform
- LabVIEW und TestStand
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| Organisiert von: |
Referenten von: |
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ad+t AG
Anmeldung
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- ad+t AG
- Digitaltest GmbH
- GÖPEL electronic GmbH
- National Instruments Ges.m.b.H
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24.03.2009
- Prüftechnologie Tage 09
[Graz (A)]
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Standort:
Novapark
A-8051 Graz
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Beschreibung:
Wie jedes Jahr dreht sich beim Prüftechnologie Tag von ad+t alles um Neuigkeiten und Anwendungen der verschiedenen Prüfverfahren. Die Kombination aus Fachvorträgen,
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Gesprächen mit Spezialisten und der begleitenden Ausstellung bietet allen Teilnehmern des Prüftechnologie-Tags umfassende Informationen und eine einmalige und günstige Gelegenheit zum Erfahrungsaustausch.
Alles in allem erhalten Sie entscheidende Anhaltspunkte für die Auswahl
des geeigneten Prüfverfahrens und zur Steigerung Ihrer Wertschöpfung.
Marco Weidmann
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Themen:
Agenda
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- AOI/AXI-Systeme
- JTAG/Boundary Scan - ScanFlex
- ATS- Automotive Test Solutions
- Alphatester - Universelles und modulares Funktionstester
- In Circuit Test (MTS)
- Flying Probe Test
- PXI-Plattform
- LabVIEW und TestStand
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| Organisiert von: |
Referenten von: |
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ad+t AG
Anmeldung
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- ad+t AG
- Digitaltest GmbH
- GÖPEL electronic GmbH
- National Instruments Ges.m.b.H
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10.03.2009
- NIDays 09
[Wien (A)]
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Standort:
Studio 44 der Österreichischen Lotterien
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Beschreibung:
Technologie- und Expertenkongress. Dort treffen sich über 250 Fachleut
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| A-1038 Wien |
aus den verschiedensten Bereichen der Mess-, Regelungs- und Automatisierungstechnik.6 |
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| Themen: |
ad+t AG - informiert Sie über die verschiedenen Prüfverfahren wie: |
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Agenda
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- AOI/AXI-Systeme
- JTAG/Boundary Scan - ScanFlex
- ATS- Automotive Test Solutions
- Alphatester - Universelles und modulares Funktionstester
- In Circuit Test (MTS)
- Flying Probe Test
- PXI-Plattform
- LabVIEW und TesStand
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| Organisator: |
Die Interessent für Prüftechnologie werden betreut durch: |
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National Instruments
Anmeldung
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03.03.2009
bis 04.03.2009
- AOI Seminar
[Jena (D)]
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Standort:
GÖPEL electronic
Göschwitzerstr. 58/60
D-07745 Jena
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Beschreibung:
Zweitägiges Seminar zum Thema Automatische Optische Inspektion Teilnahmegebühr EUR 460.00 zzgl MwSt.
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Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an
Marco Weidmann
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| Organisiert von: |
Die Teilnehmer aus (CH) + (A) werden betreut durch: |
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Göpel electronic GmbH
Anmeldung
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03.03.2009
- NIDays 09
[Zürich (CH)]
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Standort:
Swissotel Zürich
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Beschreibung:
Technologie- und Expertenkongress. Dort treffen sich über 250 Fachleut
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| CH-8050 Zürich |
aus den verschiedensten Bereichen der Mess-, Regelungs- und Automatisierungstechnik.6 |
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| Themen: |
ad+t AG - informiert Sie über die verschiedenen Prüfverfahren wie: |
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Agenda
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- AOI/AXI-Systeme
- JTAG/Boundary Scan - ScanFlex
- ATS- Automotive Test Solutions
- Alphatester - Universelles und modulares Funktionstester
- In Circuit Test (MTS)
- Flying Probe Test
- PXI-Plattform
- LabVIEW und TesStand
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| Organisator: |
Die Interessent für Prüftechnologie werden betreut durch: |
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National Instruments
Anmeldung
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