JTAG/Boundary Scan ist das wohl genialste Testverfahren, das ähnlich dem In-Circuit-Test in der Schaltung testet, den Fehlerort aufspürt, Tausende von Testpunkten – auch unter BGAs – setzt und dazu lediglich vier Leitungen braucht. Boundary Scan bedeutet soviel wie „Testen in der Peripherie (at boundaries) eines Schaltkreises“. Neben der Kernlogik und den Kontaktpunkten des ICs beinhaltet ein Schaltkreis zusätzliche Logik. Diese Testpunkte werden zwischen Kernlogik und den physikalischen Pins des Schaltkreises integriert. Diese typische IC-Architektur und die Testbusverbindung der Chips untereinander sind Voraussetzung für den Einsatz von Boundary Scan-Tests. Sind diese erfüllt, ist es möglich

einzelne Bausteine zu testen
die Verbindungen der ICs auf dem Board untereinander zu prüfen
die Funktion des kompletten Boards unter Einsatzbedingungen zu überprüfen

Um die Boundary Scan-Philosophie anwenden zu können, müssen jedoch nicht alle Bauteile auf dem Board scanfähig sein. Sobald auch nur ein Bauelement diese Voraussetzung erfüllt, steht dem Einsatz von Boundary Scan-Tests nichts mehr im Wege.
Im Gegensatz zu anderen Verfahren kann man Boundary Scan vom Beginn bis zum Ende der Produktion von Flachbaugruppen für folgende Applikationen einsetzen:

zum Testen
zur Design Verfizierung
zur In-System Programmierung
zum Debuggen
zur Emulation

Vorteile der JTAG/Boundary Scan Technologie

über den gesamten Produktlebenszyklus einsetzbar
kein mechanischer Zugriff nötig – trotzdem sehr hohe Test- und Fehlerabdeckung
beschleunigt die Entwicklung neuer Produkte → verkürzte Time-to-Market
Testprogrammerstellung in kurzer Zeit → schnelle Handlungsmöglichkeiten etwa bei Designänderungen
Verbesserung der Produktqualität durch Testen und Programmieren in einem Programmablauf

Kosteneinsparungen

geringe Investitions- und Testkosten im Vergleich zu anderen Testverfahren
keinerlei Lagerungskosten
geringe Produktnebenkosten
schnelle Amortisierung → hohes Return-On-Investment

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