JTAG/Boundary Scan als innovative DfT-Methode benötigt für seine Durchsetzung entsprechend scanfähige Bauelemente auf der Unit Under Test (UUT). In der Praxis ist dies jedoch nicht immer gegeben, da z.B. Steckverbinder derartige Features gar nicht besitzen können. Ein weiteres Problemfeld ergibt sich aus der Tatsache, dass nicht sämtliche ICs mit JTAG/Boundary Scan verfügbar sind. Dadurch sind nicht-scanfähige Cluster oft unvermeidlich. Beide Probleme lassen sich mit Hilfe der CION™ Technologie lösen oder zumindest entschärfen.

Der CION™ IC (Configurable I/O Network) wurde als universeller Parallel I/O ASIC mit speziellen JTAG/Boundary Scan Testfähigkeiten entwickelt. Indem man einen der 4 implementierten Funktionsmodi benutzt, kann der IC sowohl zur Verbesserung der Testbarkeit auf einem Board als auch auf externen Testadaptern platziert werden. Seine 32 I/O Signals sind in 4 unabhängige 8bit Ports unterteilt. Durch den weiten I/O Spannungsbereich werden eine Vielzahl von Logikfamilien unterstützt. Jeder Kanal kann unabhängig von den anderen als Eingang, Ausgang, bidirektional oder inaktiv geschalten werden. Die Ausgangstreiber sind in der Lage, relativ hohe Ströme zu treiben und unterstützen das sogenannte Unstress Feature zum Schutz von UUT und CION™ sowie Hotswap.

CION™
	Highlights: IEEE 1149.1 kompatibler ASIC 3 funktionelle I/O Modi oder reines JTAG/Boundary Scan Gleichzeitiges Treiben/Messen von bis zu 32 Signalen (Testkanälen) Hoher Ausgangsstrom (IOL) 3mA, (IOH) 24mA@3.3V Hotswap Erhöhte Testbarkeit bei On-board Einsatz oder durch universelle externe Testadapter Speziell für den Test von nicht-scanfähigen Netzen und Clustern, Steckverbindern, Backplanes, Kabeln, ICs und Multi-Chip-Modulen