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VarioTAP®

Erste echte Fusion von JTAG Emulation und Boundary Scan

VarioTAP ist eine revolutionär neue Technologie zum Streaming von TAP-Signalen (Test Access Port) kompatibel zum IEEE1149.1 Standard. Das Prinzip wurde speziell für die integrierte Boundary Scan Software SYSTEM CASCON™ entwickelt und ermöglicht die vollständige Fusion von Systemwerkzeugen und Vektoren zur Emulation mit der existenten Entwicklungs- und Ausführungsumgebung für Test und In-System-Programmierungen (ISP). Dabei wird der Umstand ausgenutzt, dass viele µP über einen IEEE1149.1 kompatiblen JTAG Port für das Software-Debugging verfügen (On-Chip Emulation).

Durch das VarioTAP spezifische adaptive Streaming können Emulationsvektoren und Boundary Scan Vektoren erstmals dynamisch synthetisiert werden, was eine Vielzahl völlig neuer Anwendungsstrategien wie Interlaced JTAG/Boundary Scan Tests, oder In-System Emulation Test / ISP eröffnet.

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Anwendungsvorteile

Durch VarioTAP und die systemtechnische Integration in SYSTEM CASCON™ werden grundsätzlich neue Maßstäbe für die Kombination von JTAG Emulation und Boundary Scan in Bezug auf Flexibilität, Modularität und Leistungsfähigkeit gesetzt. Dazu gehören insbesondere:

  • Boundary Scan Testoperationen parallel zu Emulationstests (Interlaced JTAG/Boundary Scan)
  • On-Chip Flash Programmierung mit höchster Geschwindigkeit
  • Programmierung von extern an den µP angeschlossenen Flash mit höchster Geschwindigkeit
  • Unterstützung von Scan Routern aller führenden Anbieter für In-System Applikationen
  • Extrem einfaches Anwender-Handling durch VarioTAP Modelle mit vorkonfektionierten IPs (Intellectual Property)
  • Ermöglicht Funktionstests und At-Speed Test für nicht scanfähige Komponenten (digital/analog)
  • Einfache Generierung kundenspezifischer Tests ohne native Tool Chain des µP
  • Einfache Einbindung von existenten µP-Routinen für spezifische Testfunktionen
  • Totale Interaktion zwischen Boundary Scan Testoperationen, ISP-Operationen, Emulationsoperationen und externen I/O Operationen im Testprogramm
  • Unterstützung der Hardwareplattform SCANFLEX® und sämtlicher ScanBooster™ Controller

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Für die Anwender ergeben sich daraus enorme Vorteile:

  • Keine µP spezifischen Pods notwendig
  • Kein µP spezifisches Wissen notwendig
  • Höchster Durchsatz
  • Einfache Erweiterung vorhandener Installationen oder existenter Projekte
  • Minimale Einarbeitungszeit in die neue Technik
  • Stark verbesserte Testabdeckung auch bei reduzierter Design for Test (DfT) Qualität
  • Hocheffektive Projektentwicklung für erweiterte JTAG/Boundary Scan Applikationen
  • Einsparung von zusätzlichen Werkzeugen wie z.B. Emulatoren zur reinen Flash Programmierung
  • Größere Flexibilität bei der Umsetzung neuer Test- und ISP Strategien
  • Abdeckung komplexer Multi-Prozessor Designs (z.B. 8 unterschiedliche µP verteilt in 8 TAP)