ad+t
Produkte > JTAG/Boundary Scan > Applikationen

ESA basierende Applikationen
Das richtige Werkzeug für jede Applikation

 

Zielapplikation: Funktionstest/Emulationstest

Schwerpunktmäßiger Applikationsinhalt des Funktionstests ist der Test der korrekten Funktion von ICs, Clustern, Boards, Interfaces und Units.
Beim Emulationstest wird der Test durch einen Mikroprozessor per Emulation ausgeführt. Der Emulationstest stellt eine Spezialform des Funktionstests dar.

Interner Chiptest

  • Verbindungen zur Kernlogik
  • Kern-Funktionen
  • realisierbar mit Boundary Scan

Clustertest

  • Verbindungen zum Cluster
  • Clusterfunktionen
  • Verbindungen innerhalb des Clusters
  • realisierbar mit Boundary Scan

Board-I/O-Test

  • Steckverbinder
  • periphere I/Os
  • Boardfunktionen
  • Verbindungen innerhalb des Boards
  • simulierte Funktionen per DTIF (Digital Test Interchange Format, IEEE 1445)
  • realisierbar mit Boundary Scan

Core-assisted RAM-Access-Test

  • SRAM-Verbindungen
  • DRAM-Verbindungen
  • DDR/SDRAM-Verbindungen
  • Inline-Buffer
  • realisierbar mit Processor Emulation Test

Core-assisted Systembus-Test

  • Busverbindungen
  • Schreib- und Lesefunktionen
  • Bus-Device-Funktionen
  • Board- und System-Funktionen
  • Schalter, LEDs, Displays
  • realisierbar mit Processor Emulation Test

Core-assisted I/O-Test

  • analoge und digitale I/Os
  • Kommunikationsbus-Interface
  • Aktoren, Sensoren
  • Systembus-Interface
  • realisierbar mit Processor Emulation Test