ad+t
Produkte > JTAG/Boundary Scan > Integrationen

INTEGRATION
Gesteigerte Testabdeckung durch Kombination

 

Sie sind überzeugt von Ihrem In-Circuit-Tester (ICT) oder Flying Prober (FPT) und testen damit jegliche Boards!

Aber Sie kommen an Ihre Grenzen - brauchen z.B. immer mehr Nadeln zum kontaktieren, aber wissen gar nicht wohin mit diesen?!
Dann ist es Zeit, Ihr System mit modernen Testverfahren und Technologien zu kombinieren. Die Methoden des In-Circuit-Tests, Flying Probers oder der Funktionstester sollen nicht verworfen werden - wir wollen darauf aufbauen und ergänzen!

Dabei sind in der Praxis neben den elektrischen Verfahren insbesondere die mit optischem Zugriff arbeitenden Methoden relevant. Da jedoch kein Verfahren alle denkbaren Anforderungen vereint, sind kombinierte Teststrategien auf Basis von Integrationen notwendig.