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INTEGRATION
Gesteigerte Testabdeckung durch Kombination

 

 

Integration von JTAG/Boundary Scan in In-Circuit-Tester (ICT)

In-Circuit Test (ICT) mit JTAG/Boundary Scan (BST)

Der In-Circuit-Test ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Der In-Circuit-Test wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile immer komplexer und die Abstände immer kleiner werden. JTAG/Boundary Scan hingegen hat keine Zugriffsbeschränkungen.
Eine Kombination des In-Circuit-Test mit JTAG/Boundary Scan ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschränkt oder auch nicht genügend JTAG/Boundary Scan-fähige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

Vorteile der Integration von JTAG/Boundary Scan in In-Circuit-Tester:

  • sehr schnelles Gesamtsystem bestehend aus JTAG/Boundary Scan und In-Circuit-Tester
  • sehr hohe Fehlerabdeckung durch die Integration von JTAG/Boundary Scan mit In-Circuit-Tester auch bei hochkompakten Flachbaugruppen
  • Reduzierung der Kosten für den Nadelbettadapter
  • einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren (JTAG/Boundary San und In-Circuit-Test) für seine Kernkompetenzen genutzt wird
  • Beide Verfahren aus einer Hand, da ad+t AG Systemintegrator für beide Prüfverfahren ist

Integrieren Sie Boundary Scan in Ihr System:

  • Digitaltest GmbH
  • Aeroflex
  • Agilent
  • Rohde & Schwarz
  • Spea
  • Teradyne