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INTEGRATION
Gesteigerte Testabdeckung durch Kombination

 

Kombination JTAG/Boundary Scan mit Automatischer Inspektion (AOI/AXI)

Kombination JTAG/Boundary Scan mit Automatischer Inspektion (AOI/AXI)

JTAG/Boundary Scan schliesst nicht nur die Lücke beim AOI-System hinsichtlich Funktionsüberprüfung der Bauteile, sondern ermöglicht auch Test von optisch nicht prüfbaren Bauelementen. Da JTAG/Boundary Scan zum Testen einer Flachbaugruppe lediglich einen Anschluss für den Testbus benötigt, kann dieser Test in der Regel ohne Probleme in das AOI-System integriert werden.
Die Kombination JTAG/Boundary Scan mit Automatischer Optischer Inspektion (AOI/AXI) ermöglicht eine Fehlerabdeckung von nahezu 100% bei vergleichbar minimalen Kosten.

Vorteile der Kombination JTAG/Boundary Scan mit Automatischer Inspektion (AOI/AXI):

  • sehr hohe Fehlerabdeckung
  • hohe Prüftiefe durch den Test verdeckter und komplexer Bauelemente über Boundary Scan (JTAG)
  • hohe Flexibilität, da kein prüflingsspezifischer Adapter benötigt wird
  • parallele Abarbeitung beider Testverfahren
  • einfache Integration von JTAG/Boundary Scan in AOI-System
  • Erhöhung der Fehlerabdeckung um optische Ausgabeeinheiten
  • Beide Verfahren aus einer Hand, da ad+t AG Systemintegrator für beide Prüfverfahren ist
  • Durchführung von z. B. FLASH-Programmierung parallel zur optischen Inspektion