ad+t
Produkte > JTAG/Boundary Scan > ESA - Technology Testing

Embedded System Access - Testing
Testzugriff in neuen Dimensionen

 

JTAG-/Boundary-Scan-Test

Architektur eines Boundary-Scan-Schaltkreises
Architektur eines Boundary-Scan-Schaltkreises

Boundary Scan wurde 1990 als IEEE 1149.1 standardisiert. Die Technologie definiert sogenannte Boundary-Scan-Zellen als die primären Zugriffspunkte auf ein System. Die Gesamtheit der Zellen bildet das Boundary-Scan-Register, welches über einen Test Access Port (TAP) angesteuert wird.
Alle Vektoren werden seriell ein- und ausgeschoben. Der Testbus selbst besteht aus vier Signalen und einem optionalen Reset.
Boundary Scan ist ein strukturelles Verfahren und bietet insbesondere beim Verbindungstest von BGA-Pins eine exzellente Fehlerdiagnose. Da die Tests jedoch statischer Natur sind, können dynamische Fehler nicht erkannt werden.
Ergänzend zu IEEE 1149.1 existieren mittlerweile eine Reihe weiterer IEEE-1149.x-Standards zur Erhöhung der Fehlerabdeckung.