ad+t
Produkte > JTAG/Boundary Scan > ESA - Technology Testing

Embedded System Access - Testing
Testzugriff in neuen Dimensionen

 

Embedded Diagnostics Test

Embedded Diagnostics Test
Embedded Diagnostics Test

Der Embedded Diagnostics Test benutzt den nativen Prozessor nicht nur zur Ausführung von Tests, sondern auch zur Abarbeitung von Diagnoseroutinen.
Da sämtliche Operationen in Echtzeit erfolgen, können nicht nur dynamische Fehler erkannt werden, sondern es sind auch Performance-Optimierungen möglich. Dabei wird die spezielle Testsoftware über JTAG eingebracht, sie kann jedoch auch über ein schnelles Kommunikationsinterface geladen werden.
Zugriffspunkt zum System ist damit der native Mikroprozessor. Über entsprechende Kommandos werden die integrierten Testfunktionen der Software aktiviert. Im Fehlerfall erfolgt dann die Diagnose direkt im System. Darüber hinaus kann EDT auch in Form eines residenten Power-On Self-Tests (POST) eingesetzt werden.
Desweiteren bietet die Kombination von EDT mit System JTAG (SJTAG) interessante technische Möglichkeiten, Hardcore-Fehler in komplexen Systemen zu lokalisieren.