ad+t
Produkte > Flying-Probe Test > Software > CITE 8

CITE 8
CITE 8 verfügt über neueste Intelligenz – Mehr Leistung in kürzerer Zeit

Systemsoftware für Flying Probe- und In-Circuit Testsystem




 

CITE (Computer Integrated Test Environment) ist die Softwareplattform für alle Digitaltest-Testsysteme. Es ist ein Echtzeitsystem, das zahlreiche Werkzeuge bietet, um eine hohe Testqualität zu sichern und die Testzeit zu verkürzen. Mit dieser Systemsoftware können Sie mit Visual Basic, dem tabellenbasierten GenFast oder einer Mischung aus beiden schnell und einfach Testprogramme erstellen und debuggen.

 

Testprogrammerstellung

CITE Funktionsdiagram
Reduziert den Aufwand der Testprogrammerstellung
  • Automatischer Programm Generator (APG) erstellt das Testprogramm aus der Baugruppenbeschreibung
  • Bibliothek für analoge und digitale In-Circuit-Tests
  • Einfaches Varianten-Handling
  • Programmiercode Visual Basic (VB 6, VB .NET) und/oder tabellenbasiertes GenFast
  • Übersetzung der Testprogramme von allen gängigen Testsystemen
  • Aufzeichnung aller Testergebnisse für die Rückverfolgbarkeit

 

Testprogramm-Debugging

CITE - ICT Debugging Panel
CITE - ICT Debugging Panel
  • Leistungsfähiges Debugging mit GenFast und allen Funktionen aus VB .NET
  • Einzelschritt-Modus verfügbar
  • Debugg-Fenster zur Anzeige der Messergebnisse
  • Befehlsparameter können verändert und die Auswirkungen direkt sichtbar gemacht werden
  • Erleichtertes Debuggen durch Layout-/Schaltplan-Viewer (optional) und die Hervorhebung fehlerhafter Komponenten
  • Jede Zustandsänderung am Testprogramm kann mit einer Aktion gekoppelt werden, z.B. nach Freigeben eines Testprogramms aktuelles Backup erstellen und mit Datum/Uhrzeit speichernTestprogrammerstellung

 

GenFast – tabellenbasierte Testprogrammerstellung

GenFast Testprogrammerstellung ohne Programmierkenntnisse
In-Circuit Test Testprogrammerstellung mit GenFast
  • Programmerstellung ohne Kenntnisse einer Programmiersprache
  • Leicht zu bearbeitende Tabellenstruktur
  • Umfangreiche Konfigurationsmöglichkeiten
  • Gezielte Veränderung von Werten
  • Statistische Auswertung aller analogen In-Circuit-Tests

 

Selbsttest

  • Prüft die Hardware und lokalisiert fehlerhafte Module
  • Diagnose auf Relais-Ebene
  • Aktueller Selbsttest im Kundenportal abrufbar