ad+t
Produkte > Embedded JTAG Solutions > Technologien > Embedded Functional Test

Embedded Functional Test
Einbindung funktionaler Tests z.B. Zugriff auf I²C & SPI Bausteine

Embedded Functional Test
 

Einbindung funktionaler Tests wie z.B. den Zugriff auf I²C und SPI Bausteine

Funktionales Testen moderner Elektronik mithilfe der Intelligenz bereits bestückter Bausteine – realisiert durch den Embedded Functional Test. Die Erstellung und Anwendung von Testszenarien findet komplett in einem System statt, welches durch eine gemeinsame Steuerhardware und eine gemeinsame Steuersoftware gebildet wird.

Der Embedded Functional Test ermöglicht die Einbindung funktionaler Tests wie z.B. den Zugriff auf I²C und SPI Bausteine, das Messen und Auswerten von analogen Prozessoreingängen, dynamische Speichertests bis hin zum Test von Highspeed Schnittstellen wie z.B. USB 3.0. Typischerweise werden diese Tests als Erweiterung zu bestehenden strukturellen Tests (Boundary Scan, ICT oder Flying Probe) eingesetzt.

Auch Fehler im dynamischen Bereich werden durch den Embedded Functional Test entdeckt, was bei einem rein statischen Test im Normalfall nicht möglich ist. Im Gegensatz zum klassischen Funktionstest wird keine boardspezifische Firmware benötigt.