ad+t
Produkte > Embedded JTAG Solutions > Lösungen > für die Entwicklung

Lösungen für die Entwicklung
Prototypentest & Debugging

Embedded JTAG Solutions
 

Embedded JTAG Solutions für die Entwicklung von bestückten Leiterplatten

Die Embedded JTAG Solutions und JTAG/Boundary Scan sind nicht nur ein effektives Testverfahren für die Produktion von Leiterplatten. Es bietet insbesondere in der Entwicklung der Elektronikfertigung zahlreiche Vorteile, die Ihnen als Entwickler bestückter Platinen (PCBAs) neue Lösungsansätze und eine hohe Qualität ermöglichen.

So ist es möglich, eine vollwertige Prüfung bereits ab dem ersten Prototyp in Serienqualität durchzuführen. Die In-System-Programmierung und der Test laufen über die gleiche JTAG-Schnittstelle. Und dabei benötigen Sie noch nicht einmal eine fertige Firmware. Alles, was Sie an Hardware brauchen, ist ein Controller für den Zugriff, z.B. SCANFLEX II CUBE.

Entwicklung oder Prüffeld?
Der Einsatz der Embedded JTAG Solutions auf Basis von IEEE 1149.1 hat bereits in der Entwicklungsphase einige Vorteile:

  • Fertigungsmängel werden noch vor Fertigstellung der Firmware und vor dem gesamten Systemtest beseitigt
  • Bereits der erste Prototyp kann mit den gleichen Tests überprüft werden wie das Serienprodukt.
  • Optimale Schnittstelle bei Lohnfertigung


Worauf Sie als Entwickler beim Design achten sollten, um die Embedded JTAG Solutions bestmöglich nutzen zu können, erfahren Sie im DFT-Guide Design-for-Testability.