Sigma MTS 300
In-Circuit Testsystem mit Vakuum-Schnittstelle
| Boundary Scan | Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen. Integration von Embedded JTAG Solution in ICT |
| CAN-/LIN-Module | Die CAN-/LIN-Module sind Standardschnittstellen zur Kommunikation mit dem Prüfling. |
| Programmer Module | Mit den Programmer Modulen können Sie spezifische Auswahlen für On-Board Flash Programmierungen treffen. So integrieren wir beispielsweise Programmer von Ertec, SMH, ProMik oder Algocraft. |
| IEEE-, RS232/422/485-, USB-Module | Diese funktionellen Module haben standardisierte PC-Schnittstellen für die Kommunikation zu zusätzlichen Funktionstest-Modulen. |
| PXI-Geräte | PXI-Geräte dienen als Erweiterungsmodule für spezifische Tests. |
| Optische Test-Module | Die Module für optische Tests können zum Beispiel LEDs testen, hierbei werden über Lichtleiter die Farbe und Intensität von LEDs geprüft. |